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标题: 偏光显微镜偏光熔点仪金相显微镜荧光显微镜 [打印本页]

作者: wanheng 时间: 2009-2-5 17:01 标题: 偏光显微镜偏光熔点仪金相显微镜荧光显微镜

金相显微镜: 现场金相显微镜正置金相显微镜倒置金相显微镜透反射金相显微镜大型金相显微镜
偏光显微镜: 单目偏光显微镜
双目偏光显微镜
反射偏光显微镜
透射偏光显微镜
透反射偏光显微镜
偏光熔点仪
偏光分析软件

荧光显微镜: 落射荧光显微镜倒置荧光显微镜荧光显微镜配件
一、仪器的主要用途和特点
XPF400C型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPF400C系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前领先技术，多年研究开发的结果，在国内享有绝对领先.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印

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